【应用分享】ITECH在半导体Power IC领域的测试应用
来源:艾德克斯
|
作者:sztaiqin
|
发布时间: 2020-12-16
|
2807 次浏览
|
分享到:
半导体，指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体产品主要分为四大类，分别包含集成电路（IC），光电子器件，分立器件和传感器， ITECH针对封装后的IC的测试，半导体激光器，光电照明器件的测试，二极管，三极管，场效应管，可控硅，IGBT，保险丝，继电器等分立器件以及传感器的测试都有配套的解决方案，如IC老化测试，供电测试，分立器件的导通测试等，尤其是半导体激光器的测试，依托于IT-M3100和IT6000C的CC/CV优先权设定以及环路速度可调的功能，可有效抑制开机过冲，保护半导体DUT。
随着手机、平板、智能穿戴产品的普及，对于集成协议的移动电源SoC的需求也在增长。ITECH更推出IT8500G+直流电子负载，内置多达8 种丰富的快充协议，满足对于快充适配器，移动电源、快充充电宝等产品的测试。采样带宽可达300kHz，配合内置的纹波测试功能，可协助工程师轻松完成DUT 电压和电流纹波的量测，同时也具备自动测试、电池放电测试、动态测试等多种丰富的功能，满足大部分开关电源、电池等产品研发阶段，生产老化阶段的性能测试需求。
销售总监