泰克及旗下的吉时利品牌为半导体客户提供从晶圆到系统的专业半导体测试方案，包括半导体材料测试平台、半导体工艺测试平台、芯片设计测试平台和芯片验证测试平台等。
在晶圆级半导体材料和半导体器件测试方面，泰克的4200A-SCS半导体参数分析仪可用于分立器件、材料的直流特性测试、电容电压特性CV曲线和脉冲特性测试等。在高功率半导体材料和器件测试方面，泰克的2600B-PCT高功率晶体管参数曲线图示仪可用于高压、高流等条件下直流特性IV曲线、电容电压特性CV曲线测试等。
不过也由此看出，泰克此类测试仪器已经偏向专用测试仪器了，而目前普源精电和鼎阳科技等还是以通用测试仪器为主。
目前在电路设计测量方面存在诸多挑战，有些是示波器无法解决的。比如在DDR内部测试中，高端嵌入式IC中通常会用到DDR3、DDR4甚至DDR5以及包括3.3V、1.8V、2V等不同电压的DC-DC电源轨，因此对信号上电顺序和掉电顺序有严格要求。另外目前电路中会有Type-C、MIPI等高速信号以及Wi-Fi、蓝牙等无线信号，高频信号和直流电源之间会互相干扰，所以验证电源完整性需要多个通道的同时还需要足够宽的带宽能覆盖无线信号和高速数字信号，毕竟现在诸如Wi-Fi6、5G等信号对带宽的频率均超过2GHz甚至更高。
是德科技的InfiniiVision MXR系列配置了8个模拟信号通道，每个通道宽带达到6GHz，再加上16GSa/s的采样率，强悍的性能满足了测试需求。
泰克的MSO6系列示波器具有低噪声、高精度等特点，可用于新一代USB、DDR和PCIe测试，不过并未披露太多的细节。在SiC三代半导体材料测试中，公司的IsoVu光隔离探头与MSO5系列示波器结合，凭借高达1GHz的带宽测试能力，可以准确测试Vgs、Vds的开关波形上升及下降沿细节，高达120dB的共模抑制比TIVP光隔离探头比传统的差分探头提升了1000倍，解决了之前SiC测试中因为高共模电压影响及测试工具引入的震荡等原因造成信号的失真。
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