“中国芯”任重道远，崛起之路你我同行
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作者:sztaiqin
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发布时间: 2021-03-26
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IT-M3100系列拥有扩展输出电流、电压的功能。可以根据用户不同要求的电流、电压值，采用并联、串联的方式来实现。并联运行时，最多可并联4台。串联运行时，可连接2台。透过串并联功能可支持多种不同功率的待测物测试，并且使用户的使用更为弹性，设备的使用率大幅提高。
半导体对于经济竞争力和国家安全至关重要。半导体技术的创新是推动全球经济数字化，人工智能（AI）和5G通信的基础。作为世界第一制造业大国、世界第一贸易大国、世界第一大经济体，中国在半导体芯片的研究和制造领域还有很大的发展空间。
半导体测试是生产流程中一个非常重要的环节，回顾ITECH服务于半导体测试的这些年，为用户解决测试苦难，与行业共同进步。
电学测试
静态电流测试（SIDD），在一定电压下让IC处于无负载、无振荡状态，将电流表的一端接电源的正极，另一端接IC的VDD脚，电流表的读数即为IC的静态电流。
IT6400双极性直流电源，解析度高达1nA，既可以作为供电电源，又可以测试静态电流。
老化测试
半导体的老化测试过程基本上模拟运行了芯片整个寿命，可以用来作为器件可靠性的检测或作为生产窗口来发现器件的早期故障。传统的方法是采用电阻进行能耗放电，这一方面会消耗大量的电能，另一方面会大大增加输配电设备的容量，同时释放的热量会增加空调的负担。通常而言，负载具有负效率特性、影响了工作环境质量和电力开销。其中最大的问题就是电量的浪费。比如，一个典型的100路800W的老化测试系统就要消耗超过80KW才能够提供测试功能。
IT-M3300系列小功率回馈式直流电子负载很好的填补了这一产品空白，既能模拟各种负载特性，又能将电能无污染的回馈电网，½U的体积内可提供高达800W的功率吸收。
特性测试
IT-M3200高精度直流电源的电流最大可达10A，分辨率可达10nA，可以满足用户更多IC测试需求。另外， IT9100系列功率分析仪可代替电流表，来完成测试。
生产测试
在芯片测试中会使用直流电源对芯片进行供电，在此类测试中需要大量小体积、高精度、可编程直流电源。近期，数百台IT-M3120高精度可编程直流电源集成于测试台为用户完成其产线生产测试需求。
IT-M3100系列拥有扩展输出电流、电压的功能。可以根据用户不同要求的电流、电压值，采用并联、串联的方式来实现。并联运行时，最多可并联4台。串联运行时，可连接2台。透过串并联功能可支持多种不同功率的待测物测试，并且使用户的使用更为弹性，设备的使用率大幅提高。
销售总监